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网络出版日期:1982-04-15,
纸质出版日期:1982-04-15
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初真林, 郭永廉. 光谱及化学方法在微区薄层分析中的应用[J]. 光学精密工程, 1982,(2): 45-50
. [J]. Editorial Office of Optics and Precision Engineering, 1982,(2): 45-50
初真林, 郭永廉. 光谱及化学方法在微区薄层分析中的应用[J]. 光学精密工程, 1982,(2): 45-50 DOI:
. [J]. Editorial Office of Optics and Precision Engineering, 1982,(2): 45-50 DOI:
近年来
对固体材料的薄层、微区分析
尽管发展了以电子、离子、光子作为入射束的各种“探针”方法及其与之相应的丰富多样的仪器和技术。但是由于这些现代仪器价格昂贵
目前还不能普遍使用
且每种仪器在实际分析过程中的运用
都各有面临着某些方面的不足。与其它任何一种分析技术和仪器设备一样
这些最现代化的技术、仪器设备也有它的局限性。
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