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网络出版日期:1983-06-15,
纸质出版日期:1983-06-15
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王雅黎. 在外电场作用下的BSO晶体的标准折射率椭球方程[J]. 光学精密工程, 1983,(3): 27-32
. [J]. Editorial Office of Optics and Precision Engineering, 1983,(3): 27-32
王雅黎. 在外电场作用下的BSO晶体的标准折射率椭球方程[J]. 光学精密工程, 1983,(3): 27-32 DOI:
. [J]. Editorial Office of Optics and Precision Engineering, 1983,(3): 27-32 DOI:
我室从美国宝雪龙公司进口了一块刻划面积为256×128毫米
2
79槽/毫米
闪耀角63°26′的小阶梯光栅。说明书上给出该光栅分辨本领是理论值的90%。为了实际检验它的分辨本领
用我们现有的8米埃伯特型光谱仪做了一些测定
现介绍如下;一、检测方法过去
我们一直采用半宽法测定光栅的低分辨本领。这种方法是对给定的光栅
直接测量单色光的衍射图样的强度分布
用它的半强度宽作为△λ
进而求出分辨本领。但是
用这种方法测高分辨本领是很困难的。它主要是因为:尽管使用了长焦距的光谱仪
衍射图样
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