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晶体缺陷的光散射层析法研究
论文 | 更新时间:2020-08-12
    • 晶体缺陷的光散射层析法研究

    • Studying Crystal Defacts by Light-Scattering Tomography

    • 光学精密工程   1986年0卷第4期 页码:59-66
    • 网络出版日期:1986-08-15

      纸质出版日期:1986-08-15

    移动端阅览

  • 崔承甲. 晶体缺陷的光散射层析法研究[J]. 光学精密工程, 1986,(4): 59-66 DOI:

    Cui Chengjia. Studying Crystal Defacts by Light-Scattering Tomography[J]. Editorial Office of Optics and Precision Engineering, 1986,(4): 59-66 DOI:

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