聚光系统对显微物镜杂光测量影响的分析与实验

刘瑞祥; 王海明

doi:null

您当前的位置：

首页 >

文章列表页 >

聚光系统对显微物镜杂光测量影响的分析与实验

论文 | 更新时间：2020-08-12

- 聚光系统对显微物镜杂光测量影响的分析与实验
- Analysis and Experiment on Influence of the Illuminating System on Measuring Veiling Glare Character of Microscope Objectives
- 光学精密工程 1987年0卷第2期页码：13-18
- 作者机构：
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  中图分类号：
- 网络出版日期：1987-04-15，
  
  纸质出版日期：1987-04-15
- 稿件说明：
移动端阅览
刘瑞祥, 王海明. 聚光系统对显微物镜杂光测量影响的分析与实验[J]. 光学精密工程, 1987,(2): 13-18

Liu Ruixiang, Wang Haiming. Analysis and Experiment on Influence of the Illuminating System on Measuring Veiling Glare Character of Microscope Objectives[J]. Editorial Office of Optics and Precision Engineering, 1987,(2): 13-18
刘瑞祥, 王海明. 聚光系统对显微物镜杂光测量影响的分析与实验[J]. 光学精密工程, 1987,(2): 13-18 DOI：

Liu Ruixiang, Wang Haiming. Analysis and Experiment on Influence of the Illuminating System on Measuring Veiling Glare Character of Microscope Objectives[J]. Editorial Office of Optics and Precision Engineering, 1987,(2): 13-18 DOI：

摘要

显微物镜通常采用部分相干照明

测量它的杂光时

有必要研究照明系统的影响。实验表明

对于中、低倍物镜来说

当照明系统的数值孔径变化时

物面相干性变化对显微物镜杂光测量的影响可以忽略

从而可以采用积分球面扩展光源去测量它们的杂光系数。文中对相关的问题进行了分析讨论。

Abstract

Microscope usually utilizes partial coherent illumination. When measuring its veiling glare character (VGC)

it is necessory to consider the effect of its illuminating system. It has been shown experimentally that the variation of coherence on object plane along with the changes of N. A. of the illuminating system has a very small influence on the measurement of VGC for the microscope objectives with low and middle magnificatians. Therefore an incoherent integrating sphere extended source can be used for measuring the VGI of microscope objectives. This paper represents an analysis and disscussion on related problems.

关键词

Keywords

references

浏览量

688

下载量

CSCD

文章被引用时，请邮件提醒。

提交

工具集

关联资源

暂无数据