浏览全部资源
扫码关注微信
中国科学院上海光机所
网络出版日期:1988-04-15,
纸质出版日期:1988-04-15
移动端阅览
李锡善, 许世忠. 光盘衬底光学性能测试[J]. 光学精密工程, 1988,(2): 35-46
Li Xishan, Xu Shizhong. Measurement of properties of Optical Disc Substrate[J]. Editorial Office of Optics and Precision Engineering, 1988,(2): 35-46
李锡善, 许世忠. 光盘衬底光学性能测试[J]. 光学精密工程, 1988,(2): 35-46 DOI:
Li Xishan, Xu Shizhong. Measurement of properties of Optical Disc Substrate[J]. Editorial Office of Optics and Precision Engineering, 1988,(2): 35-46 DOI:
本文讨论了不同光盘衬底材料的基本性能及基片的缺陷密度、粗糙度和平整度等参数测量方法.
This paper discusses material properties of the optical disc substrate and measurement methods of the defect density
roughness and planeness.
0
浏览量
522
下载量
CSCD
关联资源
相关文章
相关作者
相关机构