用显微镜的一维位移测量二维坐标的垂线仪

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用显微镜的一维位移测量二维坐标的垂线仪

论文 | 更新时间：2020-08-12

- 用显微镜的一维位移测量二维坐标的垂线仪
- The Vertical Meter Measuring Two-Dimensional Coordinates by Linear Movement of a Microscope
- 光学精密工程 1992年0卷第3期页码：9-11
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  中图分类号：
- 网络出版日期：1992-06-15，
  
  纸质出版日期：1992-06-15
- 稿件说明：
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王立昇. 用显微镜的一维位移测量二维坐标的垂线仪[J]. 光学精密工程, 1992,(3): 9-11

Wang Lisheng. The Vertical Meter Measuring Two-Dimensional Coordinates by Linear Movement of a Microscope[J]. Editorial Office of Optics and Precision Engineering, 1992,(3): 9-11
王立昇. 用显微镜的一维位移测量二维坐标的垂线仪[J]. 光学精密工程, 1992,(3): 9-11 DOI：

Wang Lisheng. The Vertical Meter Measuring Two-Dimensional Coordinates by Linear Movement of a Microscope[J]. Editorial Office of Optics and Precision Engineering, 1992,(3): 9-11 DOI：

简要地阐述了垂线仪的用途。揭示了原来垂线仪存在的问题。从而提出了用显微镜的一维移动完成二维坐标测量的装置。说明了测量原理

并给出了几种可行的光路结构。

This paper presents the uses of the vertical meter and reveals the problems of the primary one

put forward a new idea by which two-dimensional measurement can be completed by the linear movement of a microscope

including the principle of the measurement and several feasible optical structures.

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