X射线正入射显微镜及其在ICF中的应用

王占山; 陈星旦

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X射线正入射显微镜及其在ICF中的应用

论文 | 更新时间：2020-08-12

- X射线正入射显微镜及其在ICF中的应用
- X-ray Normal Incidence Microscope and Its Application in ICF
- 光学精密工程 1999年7卷第1期页码：1-9
- 作者机构：
  
  中国科学院长春光学精密机械研究所长春,130022
- 作者简介：
- 基金信息：
  
  国家自然科学基金(41301448)
- DOI：
  中图分类号：
- 收稿日期：1998-06-04，
  
  修回日期：1998-07-10，
  
  网络出版日期：1999-02-15，
  
  纸质出版日期：1999-02-15
- 稿件说明：
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王占山, 陈星旦. X射线正入射显微镜及其在ICF中的应用[J]. 光学精密工程, 1999,(1): 1-9

WANG Zhan-Shan, CHEN Xing-Dan . X-ray Normal Incidence Microscope and Its Application in ICF[J]. Editorial Office of Optics and Precision Engineering, 1999,(1): 1-9
王占山, 陈星旦. X射线正入射显微镜及其在ICF中的应用[J]. 光学精密工程, 1999,(1): 1-9 DOI：

WANG Zhan-Shan, CHEN Xing-Dan . X-ray Normal Incidence Microscope and Its Application in ICF[J]. Editorial Office of Optics and Precision Engineering, 1999,(1): 1-9 DOI：

摘要

全面叙述了X射线正入射显微镜的发展

探讨了影响正入射显微镜性能的关键技术问题

指出了其在等离子体诊断中的应用。

Abstract

The development of X-ray normal incidence microscope is thoroughly presented and the main technique problems that affect the performance of the X-ray normal incidence microscope are discussed.The available applications in inertial confinement fusion(ICF) are pointed out.

关键词

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