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光电内窥参数检测装置
论文 | 更新时间:2020-08-12
    • 光电内窥参数检测装置

    • The Equipment for Optoelectronic Spy System for Quantitative Testing

    • 光学精密工程   1999年7卷第5期 页码:129-134
    • 中图分类号: TB92;TH703
    • 收稿日期:1999-03-03

      修回日期:1999-07-02

      网络出版日期:1999-10-15

      纸质出版日期:1999-10-15

    移动端阅览

  • 屠大维, 陶靖. 光电内窥参数检测装置[J]. 光学精密工程, 1999,(5): 129-134 DOI:

    TU Da-Wei, TAO Jing . The Equipment for Optoelectronic Spy System for Quantitative Testing[J]. Editorial Office of Optics and Precision Engineering, 1999,(5): 129-134 DOI:

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