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18.2nm Schwarzschild显微物镜用多层膜带宽匹配问题分析
论文 | 更新时间：2020-08-12

    • 18.2nm Schwarzschild显微物镜用多层膜带宽匹配问题分析

    • The Analysis of Multilayer Waveband Matching for Schwarzschild Objective Working at 18.2nm

    • 光学精密工程   1999年7卷第3期 页码：14-18

    • 收稿日期：1999-02-08，

      修回日期：1999-04-08，

      网络出版日期：1999-06-15，

      纸质出版日期：1999-06-15

    移动端阅览

  • 王占山. 18.2nm Schwarzschild显微物镜用多层膜带宽匹配问题分析[J]. 光学精密工程, 1999,(3): 14-18 DOI：

    WANG Zhan-Shan . The Analysis of Multilayer Waveband Matching for Schwarzschild Objective Working at 18.2nm[J]. Editorial Office of Optics and Precision Engineering, 1999,(3): 14-18 DOI：

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