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微分相衬干涉显微镜定量测量表面形貌
论文 | 更新时间:2020-08-12
    • 微分相衬干涉显微镜定量测量表面形貌

    • Quantitative surface topography determination by differential interference contrast microscopy

    • 光学精密工程   2001年9卷第3期 页码:226-229
    • 中图分类号: TH742
    • 收稿日期:2001-01-20

      修回日期:2001-02-28

      网络出版日期:2001-06-15

      纸质出版日期:2001-06-15

    移动端阅览

  • 许谊, 徐毓娴, 惠梅, 蔡昕. 微分相衬干涉显微镜定量测量表面形貌[J]. 光学精密工程, 2001,(3): 226-229 DOI:

    XU Yi, XU Yu-xian, CAI Xin, HUI Mei . Quantitative surface topography determination by differential interference contrast microscopy[J]. Editorial Office of Optics and Precision Engineering, 2001,(3): 226-229 DOI:

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