采用CCD的非接触测量中提高精度的一种方法

李佳列; 丁国清; 颜国正; 朱洪海

doi:null

您当前的位置：

首页 >

文章列表页 >

采用CCD的非接触测量中提高精度的一种方法

更新时间：2020-08-12

- 采用CCD的非接触测量中提高精度的一种方法
- Method for improving precision in noncontact measurement by linear CCD
- 光学精密工程 2002年10卷第3期页码：281-284
- 作者机构：
  
  上海交通大学, 信息检测技术及仪器系上海,200030
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  中图分类号： TB92
- 收稿日期：2001-05-23，
  
  修回日期：2001-12-05，
  
  网络出版日期：2002-06-15，
  
  纸质出版日期：2002-06-15
- 稿件说明：
移动端阅览
李佳列, 丁国清, 颜国正, 朱洪海. 采用CCD的非接触测量中提高精度的一种方法[J]. 光学精密工程, 2002,(3): 281-284

LI Jia-lie, DING Guo-qing, YAN Guo-zheng, ZHU Hong-hai. Method for improving precision in noncontact measurement by linear CCD[J]. Editorial Office of Optics and Precision Engineering, 2002,(3): 281-284
李佳列, 丁国清, 颜国正, 朱洪海. 采用CCD的非接触测量中提高精度的一种方法[J]. 光学精密工程, 2002,(3): 281-284 DOI：

LI Jia-lie, DING Guo-qing, YAN Guo-zheng, ZHU Hong-hai. Method for improving precision in noncontact measurement by linear CCD[J]. Editorial Office of Optics and Precision Engineering, 2002,(3): 281-284 DOI：

摘要

利用CCD传感器对工件进行测量是非接触测量领域的常用方法

但受到CCD像元特征尺寸的限制

测量精度往往只能达到微米级

限制了该系统在非接触测量方面的更广泛应用.本文从算法角度提出了一种提高CCD精度的方法.实验证明

方法能将测量的精度提高一个数量级.

Abstract

To measure work pieces by CCD sensor is a common way in the noncontact measurement field

but the precision can only reach μm because of the size of CCD cells

which restricts the wide use of this kind of measurement system.This paper gives a method to improve CCD precision by arithmetic aspect. The experiment demonstrates that this method can improve the measurement precision by one order of magnitude.

关键词

Keywords

references

蔡文贵,李永远,许振华.CCD技术及应用[M].北京:电子工业出版社,1992.

谈新权,许胜辉,梅晓.CCD图像传感器的高分辨率技术[J].半导体光电,1999,(3):16-19.

孙学珠.高精度CCD尺寸自动检测系统的光学系统设计[J].光学技术.1995,(5):6-9.

安志勇.高分辨率CCD光电尺自动检测仪的研究[J].光学技术.1997,(5):24-27.

余松煜.数字图像处理[M].北京:电子工业出版社.1987.

佟首峰,阮锦,郝志航.CCD图像传感器降噪技术的研究[J].光学精密工程,2000,8(2):140-145.

浏览量

690

下载量

CSCD

文章被引用时，请邮件提醒。

提交

工具集

关联资源

小模数直齿轮免参数并行快速测量

面向小目标测量的通道注意力网络与系统设计

强噪声下自适应Canny算子边缘检测

基于导向滤波Retinex和自适应Canny的图像边缘检测

Canny算子在PCBA目标边缘提取中的优化应用