双光源投影法细丝直径测量

赵斌; 颜伟彬

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双光源投影法细丝直径测量

测试技术及设备 | 更新时间：2020-08-12

- 双光源投影法细丝直径测量
- Measurement of wire diameter by two point sources projection
- 光学精密工程 2003年11卷第2期页码：171-175
- 作者机构：
  
  华中科技大学, 机械科学与工程学院, 仪器系,湖北武汉,430074
- 作者简介：
- 基金信息：
  
  国家自然科学基金(No.59805006)()
- DOI：
  中图分类号： TB92
- 收稿日期：2002-09-17，
  
  修回日期：2003-01-17，
  
  网络出版日期：2003-04-15，
  
  纸质出版日期：2003-04-15
- 稿件说明：
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赵斌, 颜伟彬. 双光源投影法细丝直径测量[J]. 光学精密工程, 2003,(2): 171-175

ZHAO Bin, YAN Wei-bin. Measurement of wire diameter by two point sources projection[J]. Editorial Office of Optics and Precision Engineering, 2003,(2): 171-175
赵斌, 颜伟彬. 双光源投影法细丝直径测量[J]. 光学精密工程, 2003,(2): 171-175 DOI：

ZHAO Bin, YAN Wei-bin. Measurement of wire diameter by two point sources projection[J]. Editorial Office of Optics and Precision Engineering, 2003,(2): 171-175 DOI：

摘要

提出一种细丝直径在线测量方法

利用半导体激光作为点光源

发出球面波;通过细丝后在其后菲涅耳衍射区留下阴影

测量阴影宽度可得细丝直径;同时

利用两个相距一定距离的点光源对同一细丝投影

测量两个投影之间的距离可得细丝位置的晃动量

从而校正直径测量值。

Abstract

In the new wire diameter online measurement system proposed

laser diode was used as the point light source to emit spheric waves passing through a wire. The diameter of a thin wire was obtained by measuring the shadow in the Fresnel diffraction zone. Two point sources at some distance were used to generate two shadows of the same wire at the same time and the deviation of the wire can be determined by the distance between the two shadows so that the wire diameter can be calibrated.

关键词

Keywords

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