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基于笔划趋势分析的二值图像细化方法
论文 | 更新时间:2020-08-12
    • 基于笔划趋势分析的二值图像细化方法

    • Thinning of binary image based on stroke trend analysis

    • 光学精密工程   2003年11卷第5期 页码:527-530
    • 中图分类号: TP391.41
    • 收稿日期:2003-05-10

      修回日期:2003-07-18

      网络出版日期:2003-10-15

      纸质出版日期:2003-10-15

    移动端阅览

  • 刘桂雄, 申柏华, 冯云庆. 基于笔划趋势分析的二值图像细化方法[J]. 光学精密工程, 2003,(5): 527-530 DOI:

    LIU Gui-xiong, SHEN Bai-hua, FENG Yun-qing. Thinning of binary image based on stroke trend analysis[J]. Editorial Office of Optics and Precision Engineering, 2003,(5): 527-530 DOI:

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相关作者

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中国科学院大学
中国科学院 长春光学精密机械与物理研究所
长春理工大学 光电测控与光信息传输技术教育部重点实验室
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