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以正交衍射光栅为计量标准器的二维微位移工作台
论文 | 更新时间:2020-08-12
    • 以正交衍射光栅为计量标准器的二维微位移工作台

    • 2D-Platform with cross diffraction grating as displacement measurement sensor

    • 光学精密工程   2003年11卷第5期 页码:492-496
    • 中图分类号: TG806
    • 收稿日期:2003-04-15

      修回日期:2003-08-01

      网络出版日期:2003-10-15

      纸质出版日期:2003-10-15

    移动端阅览

  • 王选择, 郭军, 谢铁邦. 以正交衍射光栅为计量标准器的二维微位移工作台[J]. 光学精密工程, 2003,(5): 492-496 DOI:

    WANG Xuan-ze, GUO Jun, XIE Tie-bang. 2D-Platform with cross diffraction grating as displacement measurement sensor[J]. Editorial Office of Optics and Precision Engineering, 2003,(5): 492-496 DOI:

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