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17.1 nm波段光电成像系统分辨率的实验研究
更新时间:2020-08-12
    • 17.1 nm波段光电成像系统分辨率的实验研究

    • Experimental study of the resolution of an optoelectronic imaging system at 17.1 nm based on MCP detector

    • 光学精密工程   2005年13卷第2期 页码:225-230
    • 中图分类号: TP751
    • 收稿日期:2004-12-15

      修回日期:2005-01-08

      网络出版日期:2005-04-30

      纸质出版日期:2005-04-30

    移动端阅览

  • 薛玲玲, 陈 波, 尼启良, 等. 17.1 nm波段光电成像系统分辨率的实验研究[J]. 光学精密工程, 2005,13(2):225-230. DOI:

    XUE Ling-ling, CHEN Bo, NI Qi-liang, et al. Experimental study of the resolution of an optoelectronic imaging system at 17.1 nm based on MCP detector[J]. Optics and precision engineering, 2005, 13(2): 225-230. DOI:

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