新型一维位移工作台的设计及特性分析

戴 蓉; 谢铁邦

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新型一维位移工作台的设计及特性分析

更新时间：2020-08-12

- 新型一维位移工作台的设计及特性分析
- Design and analysis of 1-DOF nano-positioning stage
- 光学精密工程 2006年14卷第3期页码：428-433
- 作者机构：
  
  1. 武汉理工大学机电工程学院,湖北武汉,430070
  2. 华中科技大学机械科学与工程学院,湖北武汉,430074
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  中图分类号： TH703.6
- 收稿日期：2005-07-14，
  
  修回日期：2006-04-10，
  
  网络出版日期：2006-06-30，
  
  纸质出版日期：2006-06-30
- 稿件说明：
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戴蓉, 谢铁邦. 新型一维位移工作台的设计及特性分析[J]. 光学精密工程, 2006,14(3):428-433.

DAI Rong, XIE Tie-bang. Design and analysis of 1-DOF nano-positioning stage[J]. Optics and precision engineering, 2006, 14(3): 428-433.
戴蓉, 谢铁邦. 新型一维位移工作台的设计及特性分析[J]. 光学精密工程, 2006,14(3):428-433. DOI：

DAI Rong, XIE Tie-bang. Design and analysis of 1-DOF nano-positioning stage[J]. Optics and precision engineering, 2006, 14(3): 428-433. DOI：

摘要

研究开发了一种能实现大量程位移和纳米级定位精度的一维位移工作台。工作台采用粗、精两级定位机构

以精密衍射光栅传感器组成工作台位移的闭环检测系统。工作台可以实现0~6 mm 的位移及1 nm的定位分辨力。文中建立了由压电陶瓷驱动和柔性铰链导向的精定位机构的机电耦合模型

进行了精定位机构的模态分析和静力学分析

并采用ANSYS软件进行了有限元仿真运算。最后给出了工作台在表面三维微观形貌测量仪中的应用结果。

Abstract

A novel 1-DOF displacement stage with large motion range and nano-positioning precision was developed. The stage is a set of two-grades mechanism by coarse and fine positioning

and a diffraction grating is fixed to the stage to form a close loop displacement measuring system. The displacement range of the stage is 0~6 mm and the positioning resolution is 1 nm. A electromechanicel coupling modal of PZT actuated and flexure hinge guided fine positioning mechanism was established

its model and mechanics analysis was performed. The finite element analysis soft ANSYS was also used to simulate the behavior of the stage and an application example was presented at the last of the paper.

关键词

Keywords

references

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