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基于小孔夫琅和费衍射法的CCD光电响应特性标定研究
现代应用光学 | 更新时间:2020-08-12
    • 基于小孔夫琅和费衍射法的CCD光电响应特性标定研究

    • The pinhole Fraunhofer diffraction method of calibrating CCD optics-electron characteristic

    • 光学精密工程   2008年16卷第3期 页码:410-414
    • 收稿日期:2007-10-08

      修回日期:2007-11-13

      网络出版日期:2008-03-22

      纸质出版日期:2008-03-22

    移动端阅览

  • 林晓钢,顾乃庭,杨泽平. 基于小孔夫琅和费衍射法的CCD光电响应特性标定研究[J]. 光学精密工程, 2008,16(3):410-414 DOI:

    LIN Xiao-Gang, GU Nai-Ting, YANG Ze-Ping. The pinhole Fraunhofer diffraction method of calibrating CCD optics-electron characteristic[J]. Optics and precision engineering, 2008, 16(3): 410-414. DOI:

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