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基于ARM920T模块的深孔表面粗糙度检测装置
全国第六届精密工程学术研讨会专栏 | 更新时间:2020-08-12
    • 基于ARM920T模块的深孔表面粗糙度检测装置

    • A New Instrument for Measuring the Roughness of the deep hole surface Based on the ARM920T Circuit Block

    • 光学精密工程   2008年16卷第5期 页码:912-916
    • 收稿日期:2007-11-05

      修回日期:2008-02-26

      网络出版日期:2008-05-22

      纸质出版日期:2008-05-22

    移动端阅览

  • 张仁杰. 基于ARM920T模块的深孔表面粗糙度检测装置[J]. 光学精密工程, 2008,16(5):912-916 DOI:

    A New Instrument for Measuring the Roughness of the deep hole surface Based on the ARM920T Circuit Block[J]. Optics and precision engineering, 2008, 16(5): 912-916. DOI:

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重庆大学, 光电技术及系统教育部重点实验室, 重庆, 400044
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