您当前的位置:
首页 >
文章列表页 >
光线追迹方法在双折射滤光器误差分析中的应用
现代应用光学 | 更新时间:2020-08-12
    • 光线追迹方法在双折射滤光器误差分析中的应用

    • The application of ray tracing method in birefringent filter error analysis

    • 光学精密工程   2008年16卷第5期 页码:771-777
    • 收稿日期:2007-12-10

      修回日期:2008-01-09

      网络出版日期:2008-05-22

      纸质出版日期:2008-05-22

    移动端阅览

  • 玄伟佳,王东光,邓元勇,张志勇,孙英姿. 光线追迹方法在双折射滤光器误差分析中的应用[J]. 光学精密工程, 2008,16(5):771-777 DOI:

    The application of ray tracing method in birefringent filter error analysis[J]. Optics and precision engineering, 2008, 16(5): 771-777. DOI:

  •  
  •  

0

浏览量

16

下载量

1

CSCD

文章被引用时,请邮件提醒。
提交
工具集
下载
参考文献导出
分享
收藏
添加至我的专辑

相关文章

多方向偏振光实时定位样机的设计与搭建
基于大气偏振模式的三维姿态信息获取
双折射滤光器的误差分析与性能优化

相关作者

褚金奎
张慧霞
王寅龙
时超
范之国
陈曼丽
王波
孙洁

相关机构

大连理工大学 机械工程学院
合肥工业大学 计算机与信息学院
中国科学院国家天文台
0