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阵地地貌反求测量中像机标定技术研究
微纳技术与精密机械 | 更新时间:2020-08-12
    • 阵地地貌反求测量中像机标定技术研究

    • Calibration Techniques Research on Position Topography Measurement

    • 光学精密工程   2009年17卷第10期 页码:2480-2485
    • 中图分类号: TP391.3
    • 收稿日期:2008-10-20

      修回日期:2008-12-28

      网络出版日期:2009-10-20

      纸质出版日期:2009-10-20

    移动端阅览

  • 王崴,唐一平,张宇红,时冰川,徐晓东. 阵地地貌反求测量中像机标定技术研究[J]. 光学精密工程, 2009,17(10):2480-2485 DOI:

    Calibration Techniques Research on Position Topography Measurement[J]. Optics and precision engineering, 2009, 17(10): 2480-2485. DOI:

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