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基于红外锁相法的热波检测技术及缺陷深度测量-1
现代应用光学 | 更新时间:2020-08-12
    • 基于红外锁相法的热波检测技术及缺陷深度测量-1

    • Thermal wave detection and defect depth measurement based on Lock in thermography-1

    • 光学精密工程   2010年18卷第1期 页码:37-44
    • 中图分类号: TN219
    • 收稿日期:2008-11-19

      修回日期:2009-03-06

      网络出版日期:2010-01-22

      纸质出版日期:2010-01-22

    移动端阅览

  • 刘俊岩,戴景民,王扬,李慧娟,王俊涛,刘慧,汪子君. 基于红外锁相法的热波检测技术及缺陷深度测量-1[J]. 光学精密工程, 2010,18(1):37-44 DOI:

    Thermal wave detection and defect depth measurement based on Lock in thermography-1[J]. Optics and precision engineering, 2010, 18(1): 37-44. DOI:

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