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光电测量设备光学系统像面照度均匀性检测方法
现代应用光学 | 更新时间:2020-08-13
    • 光电测量设备光学系统像面照度均匀性检测方法

    • A method of examining the imagine planes’ illumination non-uniformity of optical system on photoelectric equipment

    • 光学精密工程   2008年16卷第12期 页码:2531-2536
    • 中图分类号: TH742.9
    • 收稿日期:2008-07-29

      修回日期:2008-10-01

      网络出版日期:2008-12-25

      纸质出版日期:2008-12-25

    移动端阅览

  • 王力,沈湘衡. 光电测量设备光学系统像面照度均匀性检测方法[J]. 光学精密工程, 2008,16(12):2531-2536 DOI:

    A method of examining the imagine planes’ illumination non-uniformity of optical system on photoelectric equipment[J]. Optics and precision engineering, 2008, 16(12): 2531-2536. DOI:

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