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基于硅悬臂高阶谐振的动态原子力显微镜的快速扫描
微纳技术与精密机械 | 更新时间:2020-08-13
    • 基于硅悬臂高阶谐振的动态原子力显微镜的快速扫描

    • High speed scanning for dynamic atomic force microscope based on higher-order resonance of silicon cantilever

    • 光学精密工程   2014年22卷第3期 页码:656-663
    • 中图分类号: TH742.9
    • 纸质出版日期:2014-03-25

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  • 黄强先,尤焕杰,袁丹等. 基于硅悬臂高阶谐振的动态原子力显微镜的快速扫描[J]. 光学精密工程, 2014,22(3): 656-663 DOI:

    HUANG Qiang-xian, YOU Huan-jie, YUAN Dan etc. High speed scanning for dynamic atomic force microscope based on higher-order resonance of silicon cantilever[J]. Editorial Office of Optics and Precision Engineering, 2014,22(3): 656-663 DOI:

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