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考虑二次反射条纹的透明被测件多表面干涉测量
现代应用光学 | 更新时间:2021-01-04
    • 考虑二次反射条纹的透明被测件多表面干涉测量

    • Multi-surface wavelength-tuning phase-shifting interferometry with parasitic fringes

    • 光学精密工程   2020年28卷第12期 页码:2605-2613
    • DOI:10.37188/OPE.20202812.2605    

      中图分类号: TH744.3
    • 收稿日期:2020-07-17

      修回日期:2020-09-09

      纸质出版日期:2020-12-15

    移动端阅览

  • 常林,闫恪涛,王陈等.考虑二次反射条纹的透明被测件多表面干涉测量[J].光学精密工程,2020,28(12):2605-2613. DOI: 10.37188/OPE.20202812.2605.

    CHANG Lin,YAN Ke-tao,WANG Chen,et al.Multi-surface wavelength-tuning phase-shifting interferometry with parasitic fringes[J].Optics and Precision Engineering,2020,28(12):2605-2613. DOI: 10.37188/OPE.20202812.2605.

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