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双层微纳结构增强电磁屏蔽的机理分析与验证
微纳技术与精密机械 | 更新时间:2022-06-21
    • 双层微纳结构增强电磁屏蔽的机理分析与验证

    • Mechanism analysis and verification of double-layer micro-nano structure to enhance electromagnetic shielding

    • 光学精密工程   2022年30卷第11期 页码:1310-1316
    • DOI:10.37188/OPE.20223000.0085    

      中图分类号: TN803
    • 收稿日期:2022-03-01

      修回日期:2022-03-26

      纸质出版日期:2022-06-10

    移动端阅览

  • 廖敦微,郑月军,崔浩等.双层微纳结构增强电磁屏蔽的机理分析与验证[J].光学精密工程,2022,30(11):1310-1316. DOI: 10.37188/OPE.20223000.0085.

    LIAO Dunwei,ZHENG Yuejun,CUI Hao,et al.Mechanism analysis and verification of double-layer micro-nano structure to enhance electromagnetic shielding[J].Optics and Precision Engineering,2022,30(11):1310-1316. DOI: 10.37188/OPE.20223000.0085.

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