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基于涡旋光与平面波干涉的微位移测量
现代应用光学 | 更新时间:2026-09-12
    • 基于涡旋光与平面波干涉的微位移测量

    • Micro-displacement measurement based on interference of vortex beams and plane wave

    • 光学精密工程   2022年30卷第17期 页码:2058-2066
    • DOI:10.37188/OPE.20223000.0219    

      中图分类号: O439
    • 收稿:2022-05-09

      修回:2022-05-26

      纸质出版:2022-09-10

    移动端阅览

  • 韩世泽,杨栋,胡晓宁等.基于涡旋光与平面波干涉的微位移测量[J].光学精密工程,2022,30(17):2058-2066.

    HAN Shize,YANG Dong,HU Xiaoning,et al.Micro-displacement measurement based on interference of vortex beams and plane wave[J].Optics and Precision Engineering,2022,30(17):2058-2066.

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