地表反射率外场无人值守测量方法

夏志伟; 王硕; 衣小龙; 王玉鹏; 方伟

doi:10.37188/OPE.20233116.2319

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地表反射率外场无人值守测量方法

现代应用光学 | 更新时间：2023-08-25

- 地表反射率外场无人值守测量方法
- Method for unattended measurement of surface reflectance in field sites
- 光学精密工程 2023年31卷第16期页码：2319-2332
- 作者机构：
  
  中国科学院长春光学精密机械与物理研究所，吉林长春
- 作者简介：
  
  [ "夏志伟（1982—），男，河南永城人，硕士，助理研究员，2006年于哈尔滨工业大学获理学学士学位，2012年于哈尔滨工业大学获工学硕士学位，主要从事光学系统设计、辐射定标方面的研究。E-mail： xiazw@ciomp.ac.cn" ]
  [ "王玉鹏（1972—），男，山东沂水人，博士，研究员，主要从事空间遥感技术、精密太阳跟踪、太阳光谱及总辐射测量等方面的研究。E-mail： wangyp@ciomp.ac.cn" ]
- 基金信息：
  
  国家自然科学基金资助项目(42001316)
- DOI：10.37188/OPE.20233116.2319
  中图分类号： TP23;P422.1+5
- 收稿日期：2022-07-13，
  
  修回日期：2022-11-02，
  
  纸质出版日期：2023-08-25
- 稿件说明：
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夏志伟,王硕,衣小龙等.地表反射率外场无人值守测量方法[J].光学精密工程,2023,31(16):2319-2332.

XIA Zhiwei,WANG Shuo,YI Xiaolong,et al.Method for unattended measurement of surface reflectance in field sites[J].Optics and Precision Engineering,2023,31(16):2319-2332.
夏志伟,王硕,衣小龙等.地表反射率外场无人值守测量方法[J].光学精密工程,2023,31(16):2319-2332. DOI： 10.37188/OPE.20233116.2319.

XIA Zhiwei,WANG Shuo,YI Xiaolong,et al.Method for unattended measurement of surface reflectance in field sites[J].Optics and Precision Engineering,2023,31(16):2319-2332. DOI： 10.37188/OPE.20233116.2319.

摘要

在轨运行载荷的性能不可避免地出现衰减，场地定标是一些卫星载荷在轨辐射定标主要手段之一，其精度主要取决于地表反射率的准确程度。本文介绍了地表反射率自动观测系统原理和系统组成，并在敦煌辐射校正场实现无人执守自动化、无间断的地表光谱反射率测量，采用标准白板法和辐照度法两种方法同步观测，对两种方法获取的地表反射率数据分别进行了短期和长期稳定性的对比分析，地表反射率可直接溯源至标准白板反射率，减少了定标传递环节。结果表明：标准白板法测量地表反射率短期均值偏差为0.130%，长期测量350~600 nm波段均值偏差为4.996%，600~2 500 nm波段均值偏差为2.104%。标准白板法测量地表反射率合理可行，测量曲线连续、平滑、抖动少，可通过定期清洁标准白板提高测量准确性。辐照度法短期测量与标准白板法具有相近的性能，350~1 900 nm波段均值偏差为0.236%，1 900~2 500 nm波段均值偏差为0.443%。长期测量地表反射率整体漂移小，平均漂移为0.735%，但存在反射率曲线局部噪声大的缺点。可将两种方法相结合，获得更为准确的地表反射率数据。

Abstract

The performance of on-orbit payloads is inevitably degraded. Field calibration is a primary method of on-orbit radiometric calibration for some satellite payloads， and its accuracy mainly depends on how accurate the surface reflectance is. This study introduces the working principle and system composition of the Automatic Observation System of Surface Reflectance， and unattended， automated， and continuous spectral surface reflectance measurements were conducted at the Dunhuang Radiation Calibration Field. The short- and long-term stabilities of the surface reflectance data acquired simultaneously were compared and analyzed using the standard whiteboard and irradiance methods， respectively. The surface reflectance is directly traceable to the reflectance of the standard whiteboard， and the data processing method reduces the calibration transfer link. The results are as follows. The mean deviation of short-term measurement of the surface reflectance by the standard whiteboard method is 0.130%. For the long-term measurement， the mean deviation of the 350-600 nm band is 4.996%， and the mean deviation of the 600-2 500 nm band is 2.104%. The standard whiteboard method is reasonable and feasible for measuring the surface reflectance， and the figure of reflectance is continuous and smooth， and it has less fluctuation. The accuracy of reflectance can be improved by regularly cleaning the standard whiteboard. The short-term measurement of the irradiance method is similar to that of the standard whiteboard method； the mean deviation of the 350-1 900 nm band is 0.236%， and the mean deviation of the 1 900-2 500 nm band is 0.443%. For the long-term measurement， the overall drift of the reflectance is small， with an average drift of 0.735%. However， there is a disadvantage of large local noise in the reflectance curve. The two methods can be combined to obtain accurate surface reflectance data.

关键词

Keywords

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