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基于光束偏转法的原子力显微镜探针一致性装配系统研究
现代应用光学 | 更新时间:2024-02-01
    • 基于光束偏转法的原子力显微镜探针一致性装配系统研究

    • Study of a consistent assembly system for AFM probes based on beam deflection method

    • 科技新闻播报:一项针对原子力显微镜(AFM)系统的创新研究取得突破。该研究通过精密控制探针与探针夹装配位置,实现了更换探针后与原光路位置的一致性,省去了繁琐的光路调整步骤。这一系统采用光束偏转法监测探针位置与偏转,并利用高精度位移与角度调节平台进行精确调整。实验验证显示,装配的探针平均位置精度接近1.1µm,更换一致性探针仅需8秒。这一成果不仅简化了AFM系统重新校准光路的操作,而且为工业计量型AFM的操作与测量性能提升奠定了坚实基础。这一创新研究为AFM领域的发展开辟了新的方向,有望推动相关技术的进步与应用拓展。
    • 光学精密工程   2024年32卷第2期 页码:137-147
    • DOI:10.37188/OPE.20243202.0137    

      中图分类号: TH73
    • 纸质出版日期:2024-01-25

      收稿日期:2023-05-10

      修回日期:2023-07-04

    扫 描 看 全 文

  • 张宝良,梁文峰,杨铁等.基于光束偏转法的原子力显微镜探针一致性装配系统研究[J].光学精密工程,2024,32(02):137-147. DOI: 10.37188/OPE.20243202.0137.

    ZHANG Baoliang,LIANG Wenfeng,YANG Tie,et al.Study of a consistent assembly system for AFM probes based on beam deflection method[J].Optics and Precision Engineering,2024,32(02):137-147. DOI: 10.37188/OPE.20243202.0137.

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