系统积热对红外偏振成像系统工作性能的影响

毛玮韵; 肖嵘; 司文荣; 王劭菁; 裘晔; 周俊焯; 郝佳; 虞益挺

doi:10.37188/OPE.20253305.0702

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系统积热对红外偏振成像系统工作性能的影响

现代应用光学 | 更新时间：2026-09-11

- 系统积热对红外偏振成像系统工作性能的影响
- Impact of system thermal accumulation on working performance of self-developed infrared polarization imaging system
- 光学精密工程 2025年33卷第5期页码：702-715
- 作者机构：
  
  1.国网上海市电力公司电力科学研究院，上海 200437
  2.西北工业大学宁波研究院浙江省高性能MEMS芯片规模制造技术重点实验室，宁波市光学微系统及应用技术重点实验室，浙江宁波 315103
  3.西北工业大学机电学院空天微纳系统教育部重点实验室，陕西省微纳机电系统重点实验室，陕西西安 710072
- 作者简介：
  
  毛玮韵（1991-），女，上海人，工程师，2013年于上海电力学院获得学士学位，2022年于浙江大学获得硕士学位，主要从事输电设备故障监测、检测及分析，电力气象预警及监测技术的研究。E-mail：814065603@qq.com
  虞益挺（1980-），男，浙江宁波人，博士、教授、博士生导师，2003年、2006年、2010年于西北工业大学分别获得学士、硕士和博士学位，长期从事微纳光学成像与传感方面的应用基础研究。E-mail：yyt@nwpu.edu.cn
- 基金信息：
  
  国家电网有限公司科技项目资助(52094023003B)
- DOI：10.37188/OPE.20253305.0702
  中图分类号： TN216;O436.5
- CSTR：32169.14.OPE.20253305.0702
- 收稿：2024-11-09，
  
  修回：2024-12-24，
  
  纸质出版：2025-03-10
- 稿件说明：
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毛玮韵,肖嵘,司文荣等.系统积热对红外偏振成像系统工作性能的影响[J].光学精密工程,2025,33(05):702-715.

MAO Weiyun,XIAO Rong,SI Wenrong,et al.Impact of system thermal accumulation on working performance of self-developed infrared polarization imaging system[J].Optics and Precision Engineering,2025,33(05):702-715.
毛玮韵,肖嵘,司文荣等.系统积热对红外偏振成像系统工作性能的影响[J].光学精密工程,2025,33(05):702-715. DOI： 10.37188/OPE.20253305.0702. CSTR： 32169.14.OPE.20253305.0702.

MAO Weiyun,XIAO Rong,SI Wenrong,et al.Impact of system thermal accumulation on working performance of self-developed infrared polarization imaging system[J].Optics and Precision Engineering,2025,33(05):702-715. DOI： 10.37188/OPE.20253305.0702. CSTR： 32169.14.OPE.20253305.0702.

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DOI：10.37188/OPE.20253305.0702