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双层平板探测的双能成像检测系统
更新时间:2022-01-20
    • 双层平板探测的双能成像检测系统

    • Dual energy imaging inspection system using dual layer flat panel detector

    • 光学精密工程   2022年 页码:1-8
    • DOI:10.37188/OPE.XXXXXXXX.0001    

      中图分类号: TH774;TP751.1

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  • 蓝重洲,王宗朋,文敏儒.双层平板探测的双能成像检测系统[J].光学精密工程, DOI:10.37188/OPE.XXXXXXXX.0001

    LAN Chong-zhou,WANG Zong-peng,WEN Min-ru.Dual energy imaging inspection system using dual layer flat panel detector[J].Optics and Precision Engineering, DOI:10.37188/OPE.XXXXXXXX.0001

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