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应用白光共焦光谱测量金属薄膜厚度
现代应用光学 | 更新时间:2020-08-12
    • 应用白光共焦光谱测量金属薄膜厚度

    • Measurement of thickness of metal thin film by using chromatic confocal spectral technology

    • 光学精密工程   2011年19卷第1期 页码:17-22
    • DOI:10.3788/OPE.20111901.0017    

      中图分类号: O484.5;TH744.1
    • 收稿日期:2010-04-30

      修回日期:2010-08-10

      网络出版日期:2011-01-22

      纸质出版日期:2011-01-22

    移动端阅览

  • 马小军, 高党忠, 杨蒙生, 赵学森, 叶成钢, 唐永建. 应用白光共焦光谱测量金属薄膜厚度[J]. 光学精密工程, 2010,19(1): 17-22 DOI: 10.3788/OPE.20111901.0017.

    MA Xiao-jun, GAO Dang-zhong, YANG Meng-sheng, ZHAO Xue-sen, YE Cheng-gang, TANG Yong-jian. Measurement of thickness of metal thin film by using chromatic confocal spectral technology[J]. Editorial Office of Optics and Precision Engineering, 2010,19(1): 17-22 DOI: 10.3788/OPE.20111901.0017.

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