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漫反射板法标定成像光谱仪的精度分析
现代应用光学 | 更新时间:2020-08-12
    • 漫反射板法标定成像光谱仪的精度分析

    • Accuracy analysis of calibration for imaging spectrometer by using diffuser method

    • 光学精密工程   2011年19卷第12期 页码:2828-2836
    • DOI:10.3788/OPE.20111912.2828    

      中图分类号: TP73
    • 收稿日期:2011-03-08

      修回日期:2011-04-15

      网络出版日期:2011-12-25

      纸质出版日期:2011-12-25

    移动端阅览

  • 张春雷, 向阳. 漫反射板法标定成像光谱仪的精度分析[J]. 光学精密工程, 2011,19(12): 2828-2836 DOI: 10.3788/OPE.20111912.2828.

    ZHANG Chun-lei, XIANG Yang. Accuracy analysis of calibration for imaging spectrometer by using diffuser method[J]. Editorial Office of Optics and Precision Engineering, 2011,19(12): 2828-2836 DOI: 10.3788/OPE.20111912.2828.

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相关作者

李幼平
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相关机构

中国科学院研究生院
中国科学院 长春光学精密机械与物理研究所 应用光学国家重点实验室
北京市地理信息研究所
中国科学院 天基动态快速光学成像技术重点实验室
中国科学院 长春光学精密机械与物理研究所
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