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谱学显微光束线光斑水平漂移分析与检测
现代应用光学 | 更新时间:2020-08-12
    • 谱学显微光束线光斑水平漂移分析与检测

    • Analysis and test of light spot transversal transfer of spectromicroscopic beamline

    • 光学精密工程   2012年20卷第3期 页码:514-519
    • DOI:10.3788/OPE.20122003.0514    

      中图分类号: TB92;TH744.1
    • 收稿日期:2011-03-08

      修回日期:2011-04-15

      网络出版日期:2012-03-22

      纸质出版日期:2012-03-22

    移动端阅览

  • 马磊, 卢启鹏, 彭忠琦. 谱学显微光束线光斑水平漂移分析与检测[J]. 光学精密工程, 2012,(3): 514-519 DOI: 10.3788/OPE.20122003.0514.

    MA Lei, LU Qi-peng, PENG Zhong-qi. Analysis and test of light spot transversal transfer of spectromicroscopic beamline[J]. Editorial Office of Optics and Precision Engineering, 2012,(3): 514-519 DOI: 10.3788/OPE.20122003.0514.

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