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用于工业三维点测量的接触式光学探针
现代应用光学 | 更新时间:2020-08-13
    • 用于工业三维点测量的接触式光学探针

    • Optical and contact probe for industrial measurement of 3-D points

    • 光学精密工程   2014年22卷第6期 页码:1477-1485
    • DOI:10.3788/OPE.20142206.1477    

      中图分类号: TH721;TP391
    • 收稿日期:2013-09-29

      修回日期:2013-10-24

      纸质出版日期:2014-06-25

    移动端阅览

  • 李磊刚, 梁晋, 唐正宗等. 用于工业三维点测量的接触式光学探针[J]. 光学精密工程, 2014,22(6): 1477-1485 DOI: 10.3788/OPE.20142206.1477.

    LI Lei-gang, LIANG Jin, TANG Zheng-zong etc. Optical and contact probe for industrial measurement of 3-D points[J]. Editorial Office of Optics and Precision Engineering, 2014,22(6): 1477-1485 DOI: 10.3788/OPE.20142206.1477.

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