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高阻值纳米薄膜材料的热电特性测量
微纳技术与精密机械 | 更新时间:2020-08-13
    • 高阻值纳米薄膜材料的热电特性测量

    • Measurement of thermoelectric characteristics of high resistance nano films

    • 光学精密工程   2014年22卷第7期 页码:1794-1799
    • DOI:10.3788/OPE.20142207.1794    

      中图分类号: TB383;O484.5
    • 收稿日期:2013-12-20

      修回日期:2014-02-01

      纸质出版日期:2014-07-25

    移动端阅览

  • 蔡浩原, 崔大付, 李亚亭等. 高阻值纳米薄膜材料的热电特性测量[J]. 光学精密工程, 2014,22(7): 1794-1799 DOI: 10.3788/OPE.20142207.1794.

    CAI Hao-yuan, CUI Da-fu, LI Ya-ting etc. Measurement of thermoelectric characteristics of high resistance nano films[J]. Editorial Office of Optics and Precision Engineering, 2014,22(7): 1794-1799 DOI: 10.3788/OPE.20142207.1794.

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