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大尺寸光学元件在位动态干涉拼接测量系统
现代应用光学 | 更新时间:2020-07-07
    • 大尺寸光学元件在位动态干涉拼接测量系统

    • On-line dynamic interference stitching measurement system for large optical elements

    • 光学 精密工程   2017年25卷第7期 页码:1764-1770
    • DOI:10.3788/OPE.20172507.1764    

      中图分类号: TH74;TH703
    • 收稿日期:2017-01-19

      录用日期:2017-3-16

      纸质出版日期:2017-07-25

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  • 于瀛洁, 齐特, 武欣. 大尺寸光学元件在位动态干涉拼接测量系统[J]. 光学 精密工程, 2017,25(7):1764-1770. DOI: 10.3788/OPE.20172507.1764.

    Ying-jie YU, Te QI, Xin WU. On-line dynamic interference stitching measurement system for large optical elements[J]. Optics and precision engineering, 2017, 25(7): 1764-1770. DOI: 10.3788/OPE.20172507.1764.

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中国科学院大学
中国科学院 长春光学精密机械与物理研究所
成都精密光学工程研究中心
成都太科光电技术有限责任公司
中国科学院 长春光学精密机械与物理研究所 中国科学院光学系统先进制造技术重点实验室
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