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Offner成像光谱仪的消像差技术
光栅微纳制造 | 更新时间:2020-07-07
    • Offner成像光谱仪的消像差技术

    • Aberration correction technique of Offner imaging spectrometer

    • 光学 精密工程   2017年25卷第12期 页码:3001-3011
    • DOI:10.3788/OPE.20172512.3001    

      中图分类号: TH744.1
    • 收稿日期:2017-10-26

      录用日期:2017-11-13

      纸质出版日期:2017-12-25

    移动端阅览

  • 赵美红, 李文昊, 巴音贺希格, 等. Offner成像光谱仪的消像差技术[J]. 光学 精密工程, 2017,25(12):3001-3011. DOI: 10.3788/OPE.20172512.3001.

    Mei-hong ZHAO, Wen-hao LI, BAYANHESHIG, et al. Aberration correction technique of Offner imaging spectrometer[J]. Optics and precision engineering, 2017, 25(12): 3001-3011. DOI: 10.3788/OPE.20172512.3001.

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