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线性位移台直线度高精密外差干涉测量装置
现代应用光学 | 更新时间:2020-08-13
    • 线性位移台直线度高精密外差干涉测量装置

    • High-precision straightness interferometer for linear moving stage

    • 光学 精密工程   2018年26卷第7期 页码:1570-1577
    • DOI:10.3788/OPE.20182607.1570    

      中图分类号: TN247;TH744.3
    • 收稿日期:2018-03-06

      录用日期:2018-4-2

      纸质出版日期:2018-07-25

    移动端阅览

  • 金涛, 刘景林, 杨卫, 等. 线性位移台直线度高精密外差干涉测量装置[J]. 光学 精密工程, 2018,26(7):1570-1577. DOI: 10.3788/OPE.20182607.1570.

    Tao JIN, Jing-lin LIU, Wei YANG, et al. High-precision straightness interferometer for linear moving stage[J]. Optics and precision engineering, 2018, 26(7): 1570-1577. DOI: 10.3788/OPE.20182607.1570.

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