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基于自注意力神经网络的低信噪比光谱干涉膜厚测量
现代应用光学 | 更新时间:2025-07-01
    • 基于自注意力神经网络的低信噪比光谱干涉膜厚测量

    • Low signal-to-noise ratio spectral interferometry film thickness measurement based on self-attention neural network

    • 在薄膜厚度测量领域,专家提出了基于自注意力神经网络的测量方法,有效提升低信噪比光谱数据的测量稳定性。
    • 光学精密工程   2025年33卷第9期 页码:1341-1352
    • DOI:10.37188/OPE.20253309.1341    

      中图分类号: TH741
    • CSTR:32169.14.OPE.20253309.1341    
    • 收稿日期:2025-03-03

      修回日期:2025-03-25

      纸质出版日期:2025-05-10

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  • 王晨,王子政,刘曌燃等.基于自注意力神经网络的低信噪比光谱干涉膜厚测量[J].光学精密工程,2025,33(09):1341-1352. DOI: 10.37188/OPE.20253309.1341. CSTR: 32169.14.OPE.20253309.1341.

    WANG Chen,WANG Zizheng,LIU Zhaoran,et al.Low signal-to-noise ratio spectral interferometry film thickness measurement based on self-attention neural network[J].Optics and Precision Engineering,2025,33(09):1341-1352. DOI: 10.37188/OPE.20253309.1341. CSTR: 32169.14.OPE.20253309.1341.

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