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晶圆定位标记光学成像的自适应聚焦评价
晶圆定位标记光学成像的自适应聚焦评价
Adaptive focusing evaluation algorithm for optical imaging of wafer positioning marks
- “研究人员提出了一种基于多向梯度方差的自适应聚焦评价算法,通过特征边缘像素点自适应采样、联立Brenner函数和Roberts函数构建多向梯度评价函数,并对方差计算优化抗噪性,为实现晶圆定位标记高灵敏度自动聚焦提供了更优计算策略。”
- 光学精密工程 2025年33卷第3期 页码:389-401
DOI: 10.37188/OPE.20253303.0389
- CSTR: 32169.14.OPE.20253303.0389
修回:2024-12-18
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