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基于相位测量偏折术的复杂曲面测量系统
基于相位测量偏折术的复杂曲面测量系统
Complex surface measurement system based on phase measuring deflectometry technique
- “为实现对复杂曲面的高精度测量,介绍了其在光学检测领域的研究进展,研究团队建立了基于相位测量偏折术的条纹反射法测量系统,为提高复杂曲面测量效率和精度、保障装备性能提供解决方案。”
- 光学精密工程 2025年33卷第23期 页码:3658-3671
DOI: 10.37188/OPE.20253323.3658
- CSTR: 32169.14.OPE.20253323.3658
修回:2025-08-25
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相关作者
胡慧然
宋爱国
相关机构
东南大学 仪器科学与工程学院


