您当前的位置:
首页 >
文章列表页 >
微纳米三坐标测量机的技术进展
微纳米三坐标测量机的技术进展
Advances in micro/nano CMM
- “超精密器件三维形貌测量技术取得突破,介绍了其在微纳米三坐标测量机领域的研究进展,研究团队历经四代样机探索了纳米级精度测量课题,为高端装备制造质量保障提供了新方案。”
- 光学精密工程 2025年33卷第23期 页码:3672-3690
DOI: 10.37188/OPE.20253323.3672
- CSTR: 32169.14.OPE.20253323.3672
修回:2025-07-28
移动端阅览
AI导读
HTML全文
图( 16 ) 表( 3 )
参考文献
出版信息
数据统计
702
浏览量
2022
下载量
2
CSCD
文章被引用时,请邮件提醒。
提交
工具集
- BibTeX下载
- Endnote下载
- RefMan 下载
- NoteExpress下载
- NoteFirst下载
相关文章
涡旋光干涉精密位移测量技术:进展、挑战与展望
超高精度平面度误差的混合优化评定及应用
跨尺度微纳米三坐标测量机研制及误差分析
光学曲面的偏折测量技术:原理、挑战与展望(特邀)
基于标定参数修正的远心成像精密三维测量
相关作者
任凯利
杜艺
段玉婷
徐咏
李思奇
刘继红
王国玺
谭陆洋
相关机构
中国科学院 西安光学精密机械研究所 超快光科学与技术全国重点实验室
西安邮电大学 电子工程学院
中国科学院 长春光学精密机械与物理研究所
长光卫星技术股份有限公司
合肥工业大学 仪器科学与光电工程学院测量理论与精密仪器安徽省重点实验室


