CMOS图像传感器光子转移曲线辐照后的退化机理

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现代应用光学 | 更新时间：2020-08-13

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- CMOS图像传感器光子转移曲线辐照后的退化机理
- Degradation mechanism for photon transfer curve of CMOS image sensor after irradiation
- 冯婕，李豫东，文林，周东，马林东
- 光学精密工程 2017年25卷第10期页码：2676-2681
- 作者机构：
  中国科学院新疆理化技术研究所材料物理与化学研究室, 新疆乌鲁木齐 830011
- 作者简介：
  冯婕(1985-), 女, 新疆乌鲁木齐人, 助理研究员, 2009年于重庆邮电大学获得学士学位, 2014年于中国科学院大学获得博士学位, 主要从事光电成像器件辐射效应与损伤机理研究、光学系统辐射效应研究.E-mail:fengjie@ms.xjb.ac.cn
  李豫东(1982-), 男, 新疆伊犁人, 研究员, 2004年于吉林大学获得学士学位, 2009年于中国科学院长春光学精密机械与物理研究所获得博士学位, 主要从事半导体器件和集成电路的辐射效应与机理、模拟试验方法、试验系统研究.E-mail:lydong@ms.xjb.ac.cn
- 基金信息：
  中国科学院西部之光重点资助项目(ZD201301);新疆维吾尔自治区青年科技创新人才培养工程资助项目(qn2015yx035);中国科学院西部之光青年博士资助项目(XBBS201316);中科院西部之光西部青年学者B类项目(2016-QNXZ-B-2);中国科学院青年创新促进会资助项目
- DOI： 10.3788/OPE.20172510.2676
  中图分类号：
- 录用：2017-6-29 ，
- 稿件说明：
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