Strehl比和波差方差的直接测定

余景池

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Strehl比和波差方差的直接测定

论文 | 更新时间：2020-08-12

- Strehl比和波差方差的直接测定
- Measurement of Strehl Ratio and Variation of Wavefront Error
- 光学精密工程 1986年0卷第6期页码：1-8
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  中图分类号：
- 网络出版日期：1986-12-15，
  
  纸质出版日期：1986-12-15
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余景池. Strehl比和波差方差的直接测定[J]. 光学精密工程, 1986,(6): 1-8

Yu Jingchi. Measurement of Strehl Ratio and Variation of Wavefront Error[J]. Editorial Office of Optics and Precision Engineering, 1986,(6): 1-8
余景池. Strehl比和波差方差的直接测定[J]. 光学精密工程, 1986,(6): 1-8 DOI：

Yu Jingchi. Measurement of Strehl Ratio and Variation of Wavefront Error[J]. Editorial Office of Optics and Precision Engineering, 1986,(6): 1-8 DOI：

摘要

本文讨论了应用Fizeau干涉仪的一种新方法。其原理为干涉图的总光强是波差的函数

而当标准面沿轴振动时

系统的波差发生了变化

这就导致干涉图总光强的变化。由此可以得到Strehl比和波差方差。

Abstract

This paper discusses a new method to apply Fizeau interferometry. The principle is based on that the total intensity of an interferogram is a function of wavefront error. When the standard surface vibrates along the optical axis

this will change the wavefront aberration and also total intensity of the interferogram. Then we can get Strehl ratio and variation of wavefront error from intensity function.

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