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采样频率、系统延迟对跟踪系统稳定性能的影响
光电跟踪与自动控制 | 更新时间:2020-08-12
    • 采样频率、系统延迟对跟踪系统稳定性能的影响

    • Influences of sample frequency and delays on tracking system

    • 光学精密工程   2000年8卷第4期 页码:369-372
    • 中图分类号: V556.5
    • 收稿日期:2000-04-03

      修回日期:2000-05-06

      网络出版日期:2000-08-15

      纸质出版日期:2000-08-15

    移动端阅览

  • 王连明, 葛文奇, 谢慕君. 采样频率、系统延迟对跟踪系统稳定性能的影响[J]. 光学精密工程, 2000,(4): 369-372 DOI:

    WANG Lian-ming, GE Wen-qi, XIE Mu-jun . Influences of sample frequency and delays on tracking system[J]. Editorial Office of Optics and Precision Engineering, 2000,(4): 369-372 DOI:

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