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低阻测量中消除线电阻和接触电阻的原理及实现
测试技术及设备 | 更新时间:2020-08-12
    • 低阻测量中消除线电阻和接触电阻的原理及实现

    • Theory and implementation method of removing line resistance and junction resistance in low resistance measurement

    • 光学精密工程   2000年8卷第5期 页码:491-496
    • 中图分类号: TM93
    • 收稿日期:2000-03-15

      修回日期:2000-07-06

      网络出版日期:2000-10-15

      纸质出版日期:2000-10-15

    移动端阅览

  • 黄永平, 金玉善, 汤建华, 于前洋, 邢忠宝. 低阻测量中消除线电阻和接触电阻的原理及实现[J]. 光学精密工程, 2000,(5): 491-496 DOI:

    HUANG Yong-ping, JIN Yu-shan, TANG Jian-hua, YU Qian-yang, XING Zhong-bao . Theory and implementation method of removing line resistance and junction resistance in low resistance measurement[J]. Editorial Office of Optics and Precision Engineering, 2000,(5): 491-496 DOI:

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