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光学曲面的偏折测量技术：原理、挑战与展望（特邀）
现代应用光学 | 更新时间：2026-09-11

    • 光学曲面的偏折测量技术：原理、挑战与展望（特邀）

    • Deflectometric measurement technology for optical surfaces： principles， challenges， and prospects（invited）

    • 光学精密工程   2025年33卷第5期 页码：677-701

    • DOI：10.37188/OPE.20253305.0677    

      中图分类号： TH741
    • CSTR：32169.14.OPE.20253305.0677    

    • 收稿：2024-12-12，

      修回：2024-12-30，

      纸质出版：2025-03-10

    移动端阅览

  • 张祥朝,牛兴漫,郝思远等.光学曲面的偏折测量技术：原理、挑战与展望（特邀）[J].光学精密工程,2025,33(05):677-701.

    ZHANG Xiangchao,NIU Xingman,HAO Siyuan,et al.Deflectometric measurement technology for optical surfaces： principles， challenges， and prospects（invited）[J].Optics and Precision Engineering,2025,33(05):677-701.

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大连理工大学 机械工程学院
哈尔滨理工大学 黑龙江省激光光谱技术及应用重点实验室
中国计量大学 计量测试与仪器学院
中国科学院 长春光学精密机械与物理研究所
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