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相位调控双向剪切散斑干涉表面变形测量
全场光学测量与无损检测 | 更新时间：2025-09-02

    • 相位调控双向剪切散斑干涉表面变形测量

    • Measurement of surface deformation using phase-manipulated dual-directional shearography

    • “在高精度变形测量领域，研究者提出了基于相位调控的双向剪切散斑干涉技术，为单波长、单偏振、单相机、单孔径的光学干涉法提供了解决方案。”
    • 光学精密工程   2025年33卷第15期 页码：2390-2401

    • DOI：10.37188/OPE.20253315.2390    

      中图分类号： TP394.1;O436.1
    • CSTR：32169.14.OPE.20253315.2390    

    • 收稿日期：2025-06-12，

      修回日期：2025-07-15，

      纸质出版日期：2025-08-10

    移动端阅览

  • 齐司源,方未东,刘奕隆等.相位调控双向剪切散斑干涉表面变形测量[J].光学精密工程,2025,33(15):2390-2401. DOI： 10.37188/OPE.20253315.2390. CSTR： 32169.14.OPE.20253315.2390.

    QI Siyuan,FANG Weidong,LIU Yilong,et al.Measurement of surface deformation using phase-manipulated dual-directional shearography[J].Optics and Precision Engineering,2025,33(15):2390-2401. DOI： 10.37188/OPE.20253315.2390. CSTR： 32169.14.OPE.20253315.2390.

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