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1983
年
第
2
期
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封面故事
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论文
0.2秒圆刻机的基本原理
邹自强
1983, 0(2): 1-11.
摘要:本文根据作者所搜集到的资料综述了圆刻机的发展历史,在漫长的发展过程中大体经历了抄录刻划、机械刻划和光电刻划三个阶段,中国古代曾对刻划技术的发展作出过重要贡献。列表说明了世界上圆刻机生产及研制现状。本文介绍了长春光机所近十几年来研究成功的一种光电圆刻方法,它的特点是:利用传统的机械方法进行分度粗定位,而后再用光电伺服控制对误差进行微量校正。
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发布时间:2020-08-12
圆光栅的莫尔条纹
朱应时
1983, 0(2): 12-18.
摘要:文中作者推导出了两块相同角栅距的圆光栅配对时产生莫尔条纹的轨迹方程。接着又介绍圆光栅产生“直形”莫尔条纹和圆环形莫尔条纹的条件。最后,提出了莫尔条纹宽度的分布规律。
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发布时间:2020-08-12
一种莫尔条纹电细分400等分的电子学系统
周世红
1983, 0(2): 19-24.
摘要:为适应角度和长度高精度检测技术发展需要,研制了此种莫尔条纹细分的电子学系统。此系统采用了载波调制电细分和数字化电路,可将0-250赫莫条纹细分尔成400等分,最大误差为莫尔条纹周期的正负二百分之一,有数字量输出。本文主要叙述此系统的设计基本原理,主要参数选定和整个电路结构安排;介绍有关电路,精度检测方法和此系统的实际应用。
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发布时间:2020-08-12
相位计在线纹计量中的应用
杨进堂
1983, 0(2): 25-31.
摘要:相位计又称比相器,它是用来测量两列频率相同的正弦电信号之间相位差值的仪器。我们从一九六六年开始使用相位计
QSL
-
φI
,用于动态检测编码器,一九七○年将相位计用于一台二进制的码盘和光栅度盘光电检验仪上,之后又购买了两台相位计(
PX
-1型和
BX
-13型),七八年又研制了一台全晶体管的相位计。从七○年到现在,检测了上千块码盘和光栅盘,积累了一些经验。
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发布时间:2020-08-12
计量光栅均匀性误差的检测
李明媛,杨进堂
1983, 0(2): 32-38.
摘要:本文小结了我们检测计量光棚均匀性误差的三种方法,即:描录法,分流法,光量法。讨论了有关原理,检测方法及计算公式,文中列举了实测数据并对这些方法进行了比较。
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发布时间:2020-08-12
论圆光栅多头读数系统
邹自强
1983, 0(2): 39-48.
摘要:本文为作者多年来研制圆光栅多头读数系统的经验总结。文中首先对圆光栅误差进行了频谱分析,认为一般存在三个“频谱峰区”,误差可分成五种成分。从这个观点出发,文中讨论了多缝读数和多头读数的积分效果,作者认为,多头与多缝适当的搭配可以取得与“全积分”相当的平差效果。文中研究了积分残差的影响因素。最后,本文推荐了一种五头读数系统及由此而来的双五头系统(不等分十头系统)。
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发布时间:2020-08-12
检测圆光栅的光电定角比相法
十六室检测组
1983, 0(2): 49-56.
摘要:圆光栅(或码盘)的分度误差是衡量其刻划水平的一项重要指标。光电定角比相法,就是检测圆光栅分度误差的一种动态检测方法。这种方法是我所于1970年年底试验成功,之后又推广到国内一些单位使用,并于1981年十月份通过所级鉴定,专家们认为“在没有合适的比较法光电检验仪的情况下,可用定角比相法来动态检测圆光栅。
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发布时间:2020-08-12
大面积码盘、光栅盘虫胶复制镀铬技术
汪国孝,温忠义,何复兴,吴国良
1983, 0(2): 57-62.
摘要:虫胶复制镀铬工艺,在国内光学冷加工方面得到广泛应用,特别在小面积分划板及各种光学度盘的复制上,国内各兄弟单位积累了宝贵经验。我所应用于大面积码盘和光栅盘的复制时,碰到了脱膜严重、胶点、脏点很多、针孔密布、脱胶不彻底等问题。本文详细地叙述了码盘、圆光栅盘虫胶复制镀铬的基本原理、工艺、配方、优缺点、经验体会以及目前我们达到的水平。如:复制后度盘精度最高达±0.4秒,复制后圆光栅盘精度最高达±0.3秒,复制后码盘精度最高达±0.2秒,接近母板精度。
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发布时间:2020-08-12
高精度大光栅盘的研制
邹自强,史淑华,杨玉生
1983, 0(2): 63-64.
摘要:光栅盘是一种自动化的角度测量元件,它具有精度高、分辨率高、使用方便、易于实现自动测量和控制等优点,在光电测角仪、跟踪经纬仪、精密雷达、数控机床、计量仪器等领域内应用越来越广泛。大光栅盘是光栅盘中线数较多、精度较高、直径较大的一种。长春光机所研制的高精度大光栅盘的主要参数是:1.刻线数大于六万:2.最大直径误差±0.1秒左右(全中误差±0.046秒~±0.078秒);3.刻划直径大于300毫米。
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发布时间:2020-08-12
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